Bruker布鲁克 NanoWizard Sense+

NanoWizard Sense+是一款高质量的入门级AFM，即使在倒置的光学显微镜上，也能实现具有出色分辨率和优异的机械和热稳定性的AFM图像。

模块性

配置灵活。轻松升级。

理想的多用户平台：通过广泛的附件和功能简化您的系统以满足用户的需求。可与先进的光学器件相结合。

性能

具有知名品质的入门级系统

无与伦比的光学集成，卓越的成像和分辨率。简化设置，提高生产率：一键式校准和基于工作流程的新颖软件。

多面性

最高的机械和热稳定性

多用途系统：研究活细胞、单分子、组织、聚合物和纳米材料。

特征：

领先技术的完美开端

基于成熟的NanoWizard技术，NanoWizard Sense+可在空气和液体中对从单分子、活细胞和组织到聚合物和纳米材料的样品进行高性能的测量。

由于其模块化和灵活的设计，它可以很容易地升级为一个完整的NanoWizard® 4 XP系统，并具有特定的应用组件和附加功能。

多样性、灵活性和模块化

玻璃表面形貌和接触共振频率图像，揭示了生产过程中的表面污染。

细胞培养液中的活体Vero细胞。 使用PeakForce Tapping®模式和专利的DirectOverlay™ 2软件功能拍摄的AFM图像和叠加相差和荧光图。

NanoWizard系列以其广泛的可选配件、模式和功能而闻名，为您的所有应用提供最高的灵活性。

样品兼容： 可以通过特殊选配来实现大的标准样品体积（Ø140×18mm3）的测量，如电动定位，用于施加机械负荷于样品的StrechingStage，用于较高样品的Headup台（最高14cm），以及用于高NA直立光学的BioMAT™的穿梭台。

温度控制：高温和低温选项（例如，独特的CryoStage：-120°C至220°C），有或没有灌注或气体控制。

开放访问： 实验设计的最大通用性，例如，在AFM上同时使用微吸管或电探针与样品接触。

电学测试： 导电AFM、KPM、EFM、MFM、STM、压电力显微镜、带温度控制的电化学和光学仪器

机械测量： 优化力成像、接触共振成像、纳米操纵、纳米光刻和纳米压痕。 涵盖从单分子力谱学到粘弹性力学的先进力谱。

完善的光学集成： NanoWizard AFMs与光学具备优异的整合能力。 由于其独特的针尖扫描设计，该系统可以与先进的光学系统相结合，与标准的聚光镜和反射显微镜同时使用，甚至可以穿过薄的盖玻片，并在所有主要的倒置光学显微镜上使用。

应用：

Bruker参考样品的开尔文探针显微镜图（KPFM）。 沉积在硅上的金、铝3D形貌图，不同颜色的接触电势差（CPD）数据覆盖其上。 扫描范围50 µm ×17µm，高度范围是86nm，接触电势差范围是-120mV到750mV.

旋涂在硅基底上的聚苯乙烯与聚烯烃（乙烯-辛烯共聚物）共混物，利用力成像模式成像。 扫描范围5 µm ×5µm，分辨率：256×256。 覆盖于地形图上的杨氏模量数据（1GPa）

沸石晶体得3D形貌图。 嵌在热塑性基底的沸石晶体表面。 表面晶体台阶清晰可见。 样品由英国曼切斯特大学的 Anderson教授提供。

液下吸附在多价阳离子修饰的云母表面的DNA分子，利用PF-Tapping成像，高度范围3nm。 

 聚苯乙烯-聚丁烯双段共聚物的相位成像图。 扫描范围：1 µm ×1µm； Z范围：4 nm。 样品由开姆尼茨工业大学Margerle教授组Eike-Christian Spitzner提供。        

标准测量模式 

成像模式

带有横向力显微镜（LFM）的接触模式

具有Phase Imaging™的轻敲模式™

力学测量

静态和动态力谱

高级力学成像

可选模式

 新：峰值力轻敲

高次谐波成像

 新：接触共振AFM

导电AFM

开尔文探针显微镜

磁力显微镜与静电力显微镜

扫描隧道显微镜

电学谱模式

压电响应显微镜

具有温度控制和光学显微镜的电化学

纳米印刷

纳米操作

纳米压痕

扫描热AFM

新：来自Cytosurge的FluidFM®解决方案

ExperimentPlanner用于设计特定的测量工作流程

RampDesigner™，用于自定义Clamp和Ramp实验

远程实验控制的ExperimentControl功能

新：DirectOverlay 2用于AFM和光学显微镜联用